Per què la resolució del microscopi electrònic és molt superior a la del microscopi de llum?
Com que els microscopis electrònics utilitzen feixos d'electrons i els microscopis òptics utilitzen llum visible i la longitud d'ona dels feixos d'electrons és més curta que la de la llum visible, la resolució dels microscopis electrònics és molt superior a la dels microscopis òptics.
La resolució del microscopi està relacionada amb l'angle del con incident i la longitud d'ona del feix d'electrons que travessa la mostra.
La longitud d'ona de la llum visible és d'uns {{0}} nanòmetres, mentre que la longitud d'ona dels feixos d'electrons està relacionada amb la tensió d'acceleració. Segons el principi de la dualitat ona-partícula, la longitud d'ona dels electrons d'alta velocitat és més curta que la de la llum visible i la resolució del microscopi està limitada per la longitud d'ona que utilitza, de manera que la resolució del microscopi electrònic (0,2 nanòmetres) és molt superior a la del microscopi òptic (200 nm).
L'aplicació de la tecnologia del microscopi electrònic es basa en el microscopi òptic. La resolució del microscopi òptic és de {{0}},2 μm i la resolució del microscopi electrònic de transmissió és de 0,2 nm. És a dir, el microscopi electrònic de transmissió s'amplia en 1000 sobre la base del microscopi òptic. vegades.
Tot i que la resolució d'un microscopi electrònic és molt superior a la d'un microscopi de llum, té alguns desavantatges:
1. En un microscopi electrònic, les mostres s'han d'observar al buit, de manera que no es poden observar mostres vives. Amb l'avenç de la tecnologia, el microscopi electrònic d'escaneig ambiental realitzarà gradualment l'observació directa de mostres vives;
2. En processar la mostra, pot produir una estructura que la mostra no té, la qual cosa agreuja la dificultat d'analitzar la imatge després;
3. A causa de la forta capacitat de dispersió d'electrons, la difracció secundària és fàcil de produir-se;
4. Com que és una imatge de projecció plana bidimensional d'un objecte tridimensional, de vegades la imatge no és única;
5. Com que el microscopi electrònic de transmissió només pot observar mostres molt fines, és possible que l'estructura de la superfície del material sigui diferent de l'estructura de l'interior del material;
6. Per a mostres ultra fines (menys de 100 nanòmetres), el procés de preparació de la mostra és complicat i difícil, i la preparació de la mostra està danyada;
7. El feix d'electrons pot destruir la mostra per col·lisió i escalfament;
8. Els preus de compra i manteniment dels microscopis electrònics són relativament elevats.
