Deu Tècniques de Diagnòstic d'Avaries de Multímetres i Instruments
1. Mètode de toc i premsa
Els mals funcionaments intermitents són causats principalment per un mal contacte o juntes de soldadura en fred. Colpegeu lleugerament les plaques de circuit i els components amb un martell de goma per comprovar si hi ha errors o parades. Quan es produeixin errors, apagueu i premeu fermament els connectors i els endolls i, a continuació, reinicieu el dispositiu per a la verificació. Torneu a asseure totes les connexions si el fet de tocar provoca un funcionament inestable.
2. Mètode d'inspecció visual
Diagnosticar els errors mitjançant la vista, l'olfacte i el tacte. Els components danyats poden decolorar-se, ampollar-se o cremar-se. Les peces cremades emeten olors peculiars, els xips en curtcircuit s'escalfen, evidentment, i es poden observar directament juntes de soldadura fredes o desprengudes.
3. Mètode d'eliminació
Traieu les plaques endollables internes i els components un per un per localitzar els errors. El mal funcionament rau en la peça que restableix el funcionament normal després de la seva retirada.
4. Mètode de substitució
Substituïu els components sospitosos per peces de recanvi intactes de la mateixa especificació per verificar si desapareixen els errors.
5. Mètode de comparació
Compareu els paràmetres entre instruments idèntics defectuosos i normals amb multímetres, oscil·loscopis i altres eines. Els elements comparatius inclouen voltatge, forma d'ona, impedància estàtica, sortida i corrent. Les desviacions en els senyals mesurats indiquen posicions defectuoses.
6. Mètode d'ajust de temperatura
Els errors que es produeixen a altes temperatures solen ser el resultat d'un rendiment deficient a alta temperatura dels xips i components. Refredeu les peces sospitoses amb alcohol anhidre per eliminar els errors. Escalfeu adequadament les zones sospitoses amb una planxa elèctrica per induir disfuncions recurrents per a la seva confirmació, evitant danys per calor excessiu.
7. Mètode de connexió en paral·lel
Connecteu un circuit integrat funcional o resistències qualificades en paral·lel, condensadors, díodes i transistors a homòlegs defectuosos. Aquest mètode funciona per a circuits oberts interns i errors de contacte dolents.
8. Mètode de derivació del condensador
Connecteu els condensadors entre els pins d'alimentació i la terra de l'IC, o la base del transistor i els terminals del col·lector. Jutgeu les seccions del circuit defectuoses segons els canvis de fenòmens anormals com ara el desordre de la pantalla.
9. Mètode d'ajust de l'estat
Marqueu les posicions originals i registreu els valors de tensió o resistència abans d'ajustar potenciòmetres i peces ajustables. L'ajust correcte dels paràmetres pot eliminar errors ocults.
10. Mètode d'aïllament
Redueix l'abast de l'error pas a pas seguint els diagrames de flux de detecció. Combineu-lo amb la comparació de senyals i l'intercanvi de components per identificar ràpidament els errors sense equips de referència idèntics.
