Funcionament i resolució de problemes dels microscopis projectors de perfils
Com adaptar l'ampliació dels microscopis de projector de mesura per a diferents requisits d'observació
Els microscopis de projector de mesura s'utilitzen per a la inspecció i l'observació tridimensional de components electrònics, plaques de circuits integrats, eines rotatives, imants i altres peces de treball. Com que diferents objectes requereixen observació amb diferents augments, aquests requisits variats es poden satisfer de diverses maneres: a. rendiment òptic, b. observació de vídeo, c. disseny mecànic, d. il·luminació.
Rendiment òptic: segons els requisits d'observació de l'objecte mesurat, es poden resoldre problemes com ara un gran augment i un gran camp de visió seleccionant diferents oculars i objectius. Si només es necessita un gran augment, es poden substituir els oculars i els objectius de major potència. Per obtenir un camp de visió més ampli, es pot canviar l'objectiu, reduir l'ampliació de l'ocular o utilitzar oculars de camp ampli per satisfer la demanda.
Observació de vídeo: quan l'ampliació òptica és insuficient, es pot utilitzar l'ampliació electrònica per a la compensació. També es recomana l'observació de vídeo si es necessita visualització en temps real i emmagatzematge de dades. Hi ha múltiples solucions de vídeo: A. connexió directa a un monitor; B. connexió a un ordinador mitjançant una targeta de captura d'imatge CCD digital o CCD analògic; C. connexió a una càmera digital (per a diferents càmeres, cal tenir en compte la compatibilitat de la interfície i la concordança amb el microscopi).
Rendiment mecànic: en aplicacions com ara soldadura, muntatge, inspecció de grans plaques de circuits integrats i escenaris que requereixen distàncies de treball específiques, es poden adoptar solucions mecàniques, com ara suports universals, suports de balancins i grans plataformes mòbils. Gràcies a les seves característiques estructurals, els objectes grans es poden inspeccionar directament mitjançant aquests suports i plataformes sense moure la peça mateixa. Per exemple, una empresa ha d'inspeccionar plaques de circuits relativament grans que requereixen una observació obliqua fina; atès que els taulers són difícils de moure, la inspecció només es pot completar mitjançant un moviment mecànic, que es pot satisfer completament mitjançant l'ús d'un suport universal.
Il·luminació: la il·luminació té un paper crític a l'hora d'observar clarament l'objecte mesurat. En seleccionar la il·luminació, s'han de triar els dispositius d'il·luminació i els mètodes d'il·luminació adequats en funció de les característiques de l'objecte (incloent-hi la intensitat de la llum, la reflectivitat i altres requisits). Si la il·luminació estàndard transmesa i obliqua dels microscopis de projector de mesura general no pot satisfer les vostres necessitats, també oferim fonts de llum freda LED, llums d'anell, làmpades de llum freda de fibra simple/dual i altres opcions.
