Aplicacions del microscopi metal·logràfic en diverses indústries
Originàriament derivada de la metalografia, la seva finalitat principal és com a instrument professional per a l'observació d'estructures metal·logràfiques. És un microscopi dissenyat específicament per observar les estructures metalogràfiques d'objectes opacs com ara metalls i minerals. Aquests objectes opacs no es poden observar en un microscopi de llum de transmissió normal, de manera que la principal diferència entre l'or i un microscopi normal és que el primer s'il·lumina per llum reflectida, mentre que el segon s'il·lumina per llum transmesa.
Els microscopis metal·logràfics tenen les característiques d'una bona estabilitat, imatges clares, alta resolució i un camp de visió ampli i pla. No només pot realitzar observacions microscòpiques a l'ocular, sinó que també pot observar-imatges dinàmiques en temps real a la pantalla de visualització de l'ordinador (càmera digital) i pot editar, desar i imprimir les imatges necessàries. S'utilitza principalment en maquinari, talls, components IC, LCD/LED i altres camps.
Perquè hi ha cinc tipus de lents de microscopi metal·logràfic: fluorescència de camp brillant EPI; BD camp brillant i fosc; Distància de treball ultra llarga SLWD; ELWD reforça la distància de treball; Equipat amb un anell de correcció. A la indústria del maquinari, es poden observar alguns components de maquinari amb reflexos intensos mitjançant lents BD amb camps brillants i foscos. Per exemple, a la indústria LCD, quan s'observen i es mesuren partícules conductores, també es pot combinar un microscopi metal·logràfic amb DIC per fer que l'objecte sembli més tridimensional. Com que està polaritzada, una tècnica d'observació microscòpica que utilitza dos conjunts de filtres de color per formar llum polaritzada. En funció de les seves propietats de birrefringència, es pot canviar la direcció del camí òptic. Per descomptat, la llum polaritzada només es pot utilitzar juntament amb DIC i té poca importància per si sola. El microscopi metal·logràfic s'utilitza per mesurar i analitzar petites dimensions, com ara components IC i seccions metal·logràfiques. Es pot mesurar mitjançant el programari intel·ligent Iview SIMS, que té una gran precisió i redueix eficaçment els errors de mesura humans. Fàcil d'aprendre i utilitzar, pot mesurar i analitzar fàcilment dimensions rellevants com ara punts, línies, arcs, semimeridians, meridians rectes, angles, etc., fer fotos de mesura fàcilment i personalitzar diversos informes de prova.
