Projectors de mesura Ús del microscopi i resolució de problemes
1. Com es pot adaptar l'observació d'ampliació del microscopi projector de mesura a diferents requisits
Els microscopis projectors de mesura s'utilitzen per a la inspecció i l'observació tridimensional de peces electròniques \ plaques de circuits integrats \ eines de capçal girat \ imants, etc. En funció d'aquests diferents objectes a mesurar, cal observar en diferents estats d'ampliació, com adaptar-se a aquests diferents requisits? Es pot resoldre de diverses maneres a. Per rendiment òptic b. Observació de vídeo opcional c. Per rendiment mecànic d. Per il·luminació de la font de llum
Rendiment òptic: segons l'objecte a observar pels requisits, mitjançant la selecció de diferents oculars \ lent objectiu per resoldre el problema de gran augment i gran camp de visió. Només requereix un gran augment, es pot substituir per oculars de gran augment i lents d'objectiu, requereix veure un gran camp de visió es pot substituir substituint la lent de l'objectiu, reduir els oculars o canviar els oculars amb un gran camp de visió per complir els requisits .
Observació de vídeo: quan l'ampliació òptica no és suficient, es pot utilitzar l'ampliació electrònica per compensar. Quan observem al mateix temps i volem poder emmagatzemar i retenir, podem triar el vídeo. Hi ha diverses maneres de vídeo: A. directament a través del monitor B. es pot connectar a un ordinador (mitjançant un CCD digital o una targeta d'adquisició d'imatges CCD analògica) C. es pot connectar a una càmera digital (les diferents càmeres digitals haurien de tenir en compte les diferents interfícies i la compatibilitat amb el microscopi)
Rendiment mecànic: trobar una mica de soldadura, muntatge, un gran camp d'inspecció de plaques de circuit integrat i els requisits de distància de treball, podem resoldre el rendiment mecànic, com ara suport universal, suport de braç basculant, plataforma mòbil gran, etc. Amb les seves característiques de rendiment, quan la inspecció d'objectes grans directament a través del suport i la plataforma pot completar el nostre treball d'inspecció. No cal moure el nostre objecte per ser provat. Per exemple: una empresa a causa de la placa de circuit d'inspecció és relativament gran i necessita observar la subtil inclinació, la placa de circuit és molt difícil de moure cap amunt, només mitjançant el moviment mecànic per completar el treball d'inspecció, l'ús del suport universal també es pot complir aquests requisits.
Il·luminació de la font de llum: la il·luminació de la font de llum sobre la capacitat de veure l'objecte a prova té un paper crucial, a l'hora d'escollir la il·luminació s'ha de basar en les característiques de l'objecte a prova (tenint en compte els seus requisits de llum, fort \ feble \ reflectant , etc.) per triar les eines i mètodes d'il·luminació adequats. Si el microscopi del projector de mesura general ve amb transmissió, la il·luminació obliqua no pot satisfer les vostres necessitats d'il·luminació, també us hem preparat una làmpada de font de llum freda LED, llum d'anell, llum de font de llum freda de fibra òptica de branca simple / doble.
2. Microscopi de realització del microscopi per resoldre el problema d'observar el posicionament i el moviment ràpid de l'objecte a prova
Posa l'objecte a mesurar sota el microscopi després que el primer s'ajusti a * petit, múltiples de la imatge és clar quan el component que s'ha de mesurar al centre del camp de visió. A continuació, ajusteu gradualment el volant de zoom de doble cara del microscopi, fins que la imatge d'ampliació gran sigui completament clara. Si necessiteu observar els components ** d'observació mòbil, es pot equipar amb una taula mòbil, que es pot moure verticalment i horitzontalment, amb una precisió de distància de moviment de 0,1 mm.
3. Com resoldre els problemes de visió humana, causats per l'observació del microscopi binocular, no es poden combinar i resoldre el problema del mareig
Causes: l'ús dels microscopis tradicionals durant molt de temps per veure una imatge així com les llargues hores de treball provocades.
Solució:
1, l'ús d'un sistema d'imatge per ordinador de microscopi o un microscopi de camí de llum paral·lel alleujarà els problemes anteriors.
2, mitjançant l'autoregulació, presteu atenció al descans, més a la distància o els objectes verds semblen regular la visió.
