Introducció a les aplicacions de la microscòpia electrònica de transmissió (TEM)
Observació morfològica: mitjançant l'ús d'imatges de contrast gruixut (també conegudes com a contrast d'absorció) es pot observar la morfologia de la mostra, que pot presentar clarament la morfologia superficial i el contorn de l'estructura interna de la mostra, proporcionant una base intuïtiva per a l'estudi de les característiques d'aspecte del material.
Anàlisi de fases: mitjançant tècniques com ara la difracció d'electrons, la difracció d'electrons de microàrea i la difracció d'electrons de feix convergent, s'analitza la fase de la mostra. En determinar la fase, el sistema cristal·lí i fins i tot el grup espacial dels materials, podem aprofundir en l'estructura cristal·lina i la composició dels materials, proporcionant una base teòrica per predir les seves propietats i desenvolupar aplicacions.
Determinació de l'estructura del cristall: mitjançant la microscòpia electrònica d'alta{0}}resolució, es pot observar directament la projecció estructural d'àtoms o cúmuls atòmics en una direcció específica del cristall. Aquesta característica permet als investigadors determinar amb precisió l'estructura del cristall, proporcionant informació clau per a l'estudi de la microestructura del material i el disseny i la síntesi de nous materials.
Observació de defectes estructurals: utilitzant imatges de contrast de difracció i tècniques de microscòpia electrònica d'alta{0}}resolució, observeu els defectes estructurals presents al cristall, com ara dislocacions, dislocacions, límits de gra, etc. Mitjançant la identificació dels tipus de defectes i l'estimació de la densitat dels defectes, els investigadors poden obtenir una comprensió més profunda de les propietats mecàniques i de la relació físiques dels materials i la microestructura. per a l'optimització del rendiment del material i el control de defectes.
Anàlisi de la composició química de la microàrea: utilitzant un espectròmetre de raigs X-con dispersió d'energia o un espectròmetre de pèrdua d'energia d'electrons connectat a TEM per analitzar la composició química de la microàrea de la mostra. Aquest mètode analític pot revelar la distribució elemental i la composició química dels materials a microescala, proporcionant un fort suport per a la investigació sobre corrosió, oxidació, dopatge i altres aspectes dels materials.
Observació in situ de processos dinàmics: amb l'ajuda de dispositius d'escalfament i tensió connectats a TEM, els investigadors poden observar els canvis microestructurals de les mostres durant l'escalfament, la deformació, la fractura i altres processos in situ. Aquesta observació-en temps real proporciona una nova perspectiva per entendre el comportament dinàmic i el mecanisme de fallada dels materials, que és útil per desenvolupar materials d'alt-rendiment i alta fiabilitat.
En el camp de la investigació de nanomaterials, la microscòpia electrònica de transmissió pot mesurar amb precisió la mida, la morfologia i l'estructura cristal·lina de les nanopartícules. Mitjançant la tecnologia d'imatges d'alta-resolució, els investigadors poden observar clarament la constant de la gelosia i la disposició atòmica superficial dels nanomaterials.
