Introducció a les característiques del microscopi de sonda d'escaneig
Microscopi de sonda d'escaneig (Scanning Probe Microscope, SPM) és el microscopi de túnel d'escaneig i el microscopi de túnel d'escaneig basat en el desenvolupament d'una varietat de nous microscopis de sonda (microscopi de força atòmica AFM, microscopi de força làser LFM, microscopi de força magnètica MFM i així successivament) col·lectivament, és el desenvolupament internacional de la superfície dels instruments analítics en els darrers anys, és l'ús integral de la tecnologia optoelectrònica, tecnologia làser, tecnologia de detecció de senyal feble, disseny i processament mecànic de precisió, tecnologia de control automàtic, tecnologia de processament de senyal digital , tecnologia òptica aplicada, adquisició i control d'alta velocitat per ordinador i tecnologia de processament gràfic d'alta resolució i altres assoliments científics i tecnològics moderns d'integració òptica, mecànica i elèctrica de productes d'alta tecnologia. Aquest nou tipus d'eina microscòpica té avantatges evidents en comparació amb diversos microscopis i instruments analítics del passat:
1, SPM té una resolució molt alta. Pot "veure" fàcilment l'àtom, que és difícil d'arribar al microscopi general i fins i tot al microscopi electrònic.
2, SPM és una imatge d'alta resolució de superfície de mostra real en temps real, és realment veure l'àtom. A diferència d'alguns instruments analítics, l'estructura superficial de la mostra es dedueix per mètodes indirectes o computacionals.
3, SPM s'utilitza en un ambient relaxat. Microscopi electrònic i altres instruments sobre els requisits de l'entorn de treball dels més exigents, la mostra s'ha de col·locar en condicions de buit elevat per tal de provar. SPM pot treballar al buit, però també a l'atmosfera, a baixa temperatura, a temperatura ambient, a alta temperatura i fins i tot en solució. Per tant, SPM és adequat per a experiments científics en diversos entorns de treball.
