Com adaptar -se a diferents requisits per a l'observació de la ampliació del microscopi estèreo
El microscopi estereoscòpic s’utilitza per a la inspecció tridimensional i l’observació de components electrònics, les plaques de circuit integrades, les eines de tall rotatives, imants, etc. Com adaptar-se a aquests diferents requisits basats en el fet que aquests objectes diferents s’han d’observar a diferents magnificacions? Es poden utilitzar diversos aspectes per resoldre un pot observar -se mitjançant el rendiment òptic b. Pot triar l'observació de vídeo c. es pot observar mitjançant el rendiment mecànic d. es pot il·luminar per una font de llum
Rendiment òptic: Basat en els requisits d’observació de l’objecte mesurat, es seleccionen diferents oculars/objectius per resoldre problemes com ara una ampliació elevada i un gran camp de vista. Quan només es requereix una ampliació elevada, es pot aconseguir substituint l’ocular i la lent objectiva d’alta ampliació. Quan es requereix un gran camp de vista, es pot aconseguir substituint la lent objectiva, reduint l’ocular o substituint el gran camp de vista.
Observació del vídeo: Quan la ampliació òptica és insuficient, es pot utilitzar una ampliació electrònica com a compensació. Quan observem i volem emmagatzemar i preservar simultàniament, podem triar vídeos. Hi ha diversos formats de vídeo: A. Es pot accedir directament a través d’un monitor B. Es pot connectar a un ordinador (mitjançant una targeta d’adquisició d’imatges CCD digital o analògica) C. Es pot connectar a una càmera digital (diferents càmeres digitals han de tenir en compte diferents interfícies i compatibilitat amb el microscopi)
Rendiment mecànic: quan trobem soldadura, muntatge, inspecció de grans plaques de circuit integrat i requisits per a la distància de treball, podem solucionar -les mitjançant un rendiment mecànic, com entre claudàtors universals, claudàtors de braços balancins, grans plataformes mòbils, etc. Amb les seves característiques de rendiment, podem completar directament els nostres treballs de detecció mitjançant claudàtors i plataformes quan detecten objectes grans. No cal moure el nostre objecte provat. Per exemple, l’empresa A va trobar difícil moure la placa de circuit per la seva gran mida i la necessitat d’observació d’inclinació lleugera. Per tant, els treballs d’inspecció només es podrien completar mitjançant moviments mecànics i l’ús de claudàtors universals podria complir aquests requisits d’ús simultàniament.
Il·luminació de la font de llum: la il·luminació de la font de llum té un paper crucial en si es pot veure clarament l'objecte mesurat. En seleccionar la il·luminació, és necessari triar l’eina d’il·luminació corresponent i el mètode d’il·luminació basat en les característiques del propi objecte mesurat (tenint en compte els seus requisits per a la llum, com ara forts/febles/reflexius, etc.). Si la transmissió integrada i la il·luminació oblic d’un estereomicroscopi típic no poden satisfer les vostres necessitats d’il·luminació, també hem preparat llums de font de llum freda LED, llums circulars, llums de llum de llum freda de fibra única/doble, etc.
