Aplicació de microscopis metal·logràfics a les indústries
Els microscopis metal·logràfics es van originar a partir de la metalografia. Són instruments professionals utilitzats principalment per a l'observació d'estructures metalogràfiques, concretament per examinar la microestructura metal·logràfica d'objectes opacs com ara metalls i minerals. Aquests exemplars opacs no es poden observar amb microscopis de llum de transmissió normals. Per tant, la diferència principal entre els microscopis metal·logràfics i els microscopis ordinaris és que el primer utilitza il·luminació de llum reflectida mentre que el segon es basa en la llum transmesa.
Els microscopis metal·logràfics presenten una excel·lent estabilitat, imatges nítides, alta resolució i un gran camp de visió pla. Les observacions es poden realitzar no només a través de l'ocular, sinó també com a imatges dinàmiques en temps real a la pantalla d'un ordinador o càmera digital. Les imatges capturades es poden editar, desar i imprimir. S'apliquen àmpliament en maquinari, secció metal·logràfica, components IC, LCD, LED i altres camps.
Hi ha cinc tipus de lents objectius per als microscopis metal·logràfics: objectius de fluorescència de camp clar EPI, objectius de camp brillant/fosc BD, objectius de llarga distància de treball SLWD, objectius de llarga distància de treball estesa ELWD i objectius amb anells de correcció. A la indústria del maquinari, es poden seleccionar objectius BD de camp brillant/fosc per observar peces de maquinari altament reflectants. Per exemple, quan s'observen i es mesuren partícules conductores a la indústria LCD, el microscopi metal·logràfic es pot equipar amb DIC per obtenir vistes més estereoscòpiques. Aquesta és una tècnica de microscòpia de llum polaritzada que utilitza filtres aparellats. Redirigeix el camí de la llum segons les propietats de birrefringència. Tingueu en compte que la llum polaritzada només és funcional quan es combina amb DIC i té un valor limitat quan s'utilitza sola.
Quan s'utilitzen microscopis metal·logràfics per a la mesura i l'anàlisi de petites característiques en components IC i seccions metalogràfiques, es pot adoptar el programari de mesura intel·ligent Iview-DIMS. Ofereix una alta precisió i redueix eficaçment els errors de mesura manual. El programari és fàcil d'utilitzar i admet el mesurament i l'anàlisi de punts, línies, arcs, radis, diàmetres, angles i altres dimensions geomètriques. També pot capturar imatges de mesura i generar informes de prova personalitzats.
