Una breu anàlisi dels principis i aplicacions del DIC en microscopis metal·logràfics
Quan tothom està fent observació al microscopi metal·logràfic, hi ha un mètode d'observació anomenat mètode de contrast d'interferència diferencial, també anomenat mètode d'observació DIC. Aquest és un mètode relativament avançat que actualment només s'utilitza en equips de marca estrangera. El principi específic és el següent: Introduïu-lo.
Components necessaris per a un microscopi metal·logràfic: polaritzador, analitzador, xip DIC d'interferència diferencial (de pedra glacial).
Els polaritzadors i analitzadors són components bàsics de suport indispensables en l'observació de llum polaritzada ortogonal de mostres metal·logràfiques. Es munten en el conjunt d'il·luminació de camp clar/fosc i també són components indispensables per al mètode de contrast d'interferència diferencial. El polaritzador d'un microscopi metal·logràfic canvia la font de llum en llum polaritzada linealment que vibra en direcció est-oest; l'analitzador pot interferir amb la llum coherent que compleix les condicions d'interferència.
La placa DIC d'interferència diferencial d'un microscopi metal·logràfic és el component bàsic del mètode de contrast d'interferència diferencial. El seu gruix canvia lleugerament, provocant lleugers canvis en el camí òptic o la diferència del camí òptic, i produeix un efecte de contrast d'interferència evident;
Aplicacions de les làmines DIC d'interferència diferencial en microscopis metal·logràfics:
Observeu les partícules, esquerdes, forats i protuberàncies a la superfície de l'objecte, que apareixen en relleu, i podreu fer judicis correctes.
Els requisits de superfície d'algunes peces es redueixen. Sempre que el poliment no requereixi corrosió, es pot veure el relleu de transformació de fase de la martensita.
Observeu alguns canvis de partícules superficials, com ara l'observació d'ions conductors, etc.
A través de l'explicació anterior, crec que tothom té una certa comprensió del principi i l'aplicació de les làmines DIC d'interferència diferencial als microscopis metal·logràfics.
