Per què la resolució dels microscopis electrònics és molt més alta que la dels microscopis òptics?
Com que els microscopis electrònics utilitzen feixos d'electrons i els microscopis òptics utilitzen llum visible i la longitud d'ona dels feixos d'electrons és més curta que la longitud d'ona de la llum visible, la resolució dels microscopis electrònics és molt superior a la dels microscopis òptics.
La resolució d'un microscopi està relacionada amb l'angle del con incident i la longitud d'ona del feix d'electrons que travessa la mostra.
La longitud d'ona de la llum visible és d'uns 300 a 700 nanòmetres, i la longitud d'ona del feix d'electrons està relacionada amb la tensió d'acceleració. Segons el principi de la dualitat ona-partícula, la longitud d'ona dels electrons d'alta velocitat és més curta que la longitud d'ona de la llum visible i la resolució del microscopi està limitada per la longitud d'ona utilitzada. Per tant, la resolució del microscopi electrònic (0,2 nanòmetres) és molt superior a la del microscopi òptic. (200 nm).
L'aplicació de la tecnologia de microscòpia electrònica es basa en el microscopi òptic. La resolució del microscopi òptic és de {{0}},2μm i la resolució del microscopi electrònic de transmissió és de 0,2nm. És a dir, el microscopi electrònic de transmissió augmenta 1000 vegades sobre la base del microscopi òptic. vegades.
Tot i que la resolució de la microscòpia electrònica és molt superior a la de la microscòpia òptica, té alguns desavantatges:
1. En un microscopi electrònic, la mostra s'ha d'observar al buit, de manera que no es poden observar mostres vives. Amb l'avenç de la tecnologia, la microscòpia electrònica d'escaneig ambiental permetrà gradualment l'observació directa de mostres vives;
2. Quan es processa la mostra, es poden produir estructures que la mostra originalment no té, fet que dificulta l'anàlisi de la imatge posteriorment;
3. A causa de la capacitat de dispersió d'electrons extremadament forta, la difracció secundària és propensa a produir-se;
4. Com que és una imatge de projecció plana bidimensional d'un objecte tridimensional, de vegades la imatge no és única;
5. Com que els microscopis electrònics de transmissió només poden observar mostres molt fines, l'estructura de la superfície de la substància pot ser diferent de l'estructura de l'interior de la substància;
6. Per a mostres ultra fines (per sota de 100 nanòmetres), el procés de preparació de la mostra és complex i difícil, i la preparació de la mostra es pot danyar;
7. El feix d'electrons pot destruir la mostra per col·lisió i escalfament;
8. El preu d'adquirir i mantenir un microscopi electrònic és relativament elevat.
