Quin microscopi s'utilitza per a la investigació del grafè
Per descomptat, és un microscopi de força atòmica (AFM). Mirant el mapa d'alçada, una sola capa de grafè té menys d'1 nm. Cal dir que l'AFM és el mitjà més convenient per caracteritzar els materials de grafè. Per descomptat, s'ha de tenir cura de distingir la pols, les sals i les molècules de grafè durant la caracterització d'AFM.
Per descomptat, la microscòpia òptica i la microscòpia electrònica d'escaneig (SEM) també es poden utilitzar per caracteritzar el grafè. També hi ha un microscopi electrònic de transmissió d'alta resolució HRTEM que pot veure la imatge atòmica de bresca del grafè i pot veure els defectes de l'òxid de grafè després de la reducció.
Avui en dia, la qualitat dels llibres compilats per molts estudiosos cada cop empitjora, però "Graphene-Structure, Preparation Method and Performance Characterization" editat per estudiosos de la Universitat de Tsinghua encara és raonable. Hi ha alguns errors al llibre, que no afecten la referència. En comparació amb alguns llibres És molt millor compilar un gran nombre de documents sense regles lògiques per mostrar quants documents has llegit.
