Què és la microscòpia confocal?
La microscòpia confocal és una tècnica d'imatge òptica que millora la resolució òptica i el contrast de les imatges microscòpiques mitjançant l'ús de forats espacials per bloquejar la llum desenfocada. en la formació de la imatge. La captura de múltiples imatges 2D a diferents profunditats en una mostra permet la reconstrucció d'estructures 3D (un procés anomenat secció òptica). Aquesta tècnica s'utilitza àmpliament a la ciència i la indústria, amb aplicacions típiques en ciències de la vida, inspecció de semiconductors i ciència de materials.
Els microscopis confocals són generalment microscopis fluorescents i microscopis confocals.
La microscòpia de fluorescència s'utilitza principalment en el camp biològic i la investigació mèdica. Pot obtenir imatges fluorescents de l'estructura fina dins de cèl·lules o teixits, i observar senyals fisiològics com ara Ca2 plus, valor de pH, potencial de membrana i canvis en la morfologia cel·lular a nivell subcel·lular. , una nova generació d'eines de recerca potents en els camps de la biologia molecular, la neurociència, la farmacologia, la genètica i molt més. El microscopi confocal basat en el principi de la tecnologia confocal és un instrument de detecció utilitzat per mesurar la superfície de diversos dispositius i materials de precisió a nivell micro-nano.
L'objectiu de la ciència dels materials és estudiar l'efecte de l'estructura superficial d'un material sobre les seves propietats superficials. Per tant, l'anàlisi d'alta resolució de la topografia superficial és de gran importància per determinar paràmetres rellevants com ara la rugositat de la superfície, les propietats reflectants, les propietats tribològiques i la qualitat de la superfície. La tecnologia confocal pot mesurar materials amb diverses propietats de reflexió superficial i obtenir dades de mesura efectives.
El microscopi confocal es basa en la tecnologia de microscòpia confocal, combinada amb mòduls precisos d'escaneig en direcció Z, algorismes de modelatge 3D, etc., poden escanejar la superfície del dispositiu sense contacte i establir una imatge 3D de la superfície per aconseguir la mesura 3D del topografia de la superfície del dispositiu. En el camp de les proves de producció de materials, pot analitzar el perfil de la superfície, els defectes superficials, el desgast, la corrosió, la planitud, la rugositat, l'ondulació, la bretxa de porus, l'alçada del pas, la deformació de flexió, el processament de diversos productes, components i superfícies de materials. Es mesuren i s'analitzen la topografia superficial i altres característiques de la superfície.
