Quines són les característiques principals d'un microscopi metalogràfic
1. El microscopi metal·logràfic està especialment dissenyat per a totes les tasques d'inspecció i mesura en la inspecció de metalls i materials industrials.
2. Proporciona principalment una configuració d'observació de reflexió per complir amb la detecció i anàlisi rutinàries de mostres metalogràfiques.
3. El camí òptic global admet un diàmetre de camp de visió de 20 mm.
4. Placa giratòria d'objectius manual de quatre forats.
5. Proporcioneu il·luminació halògena amb làmpada halògena integrada de 35 W o transformador extern de 100 W.
6. Pot proporcionar mètodes d'observació de camp brillant i llum polaritzada.
7. Es pot combinar amb les lents objectius de Leica de diversos múltiples. Es pot equipar amb un escenari de mostra fixa o un escenari de mostra mòbil de tres taules. El microscopi metal·logràfic es pot equipar amb càmeres, càmeres digitals i altres dispositius d'adquisició d'imatges per aconseguir l'emmagatzematge d'imatges, i es pot utilitzar juntament amb el programari d'anàlisi per a l'anàlisi d'imatges.
El microscopi metalogràfic, amb el seu contrast de fase d'interferència diferencial (DIC) totalment automàtic i mirall de camp complet 1,25x, pot detectar fins i tot petits detalls. La imatge d'alta definició de camp ultra profund permet una visió clara dels petits detalls, complint amb els requisits d'alta qualitat d'imatge per a la detecció.
La microscòpia electrònica d'escaneig és tan fàcil d'utilitzar com una càmera digital, mantenint una alta resolució i profunditat de camp alhora que s'obtenen imatges de gran augment. Amb les potents propietats òptiques electròniques de la microscòpia electrònica d'escaneig, ajuda a accelerar la investigació en ciències de la vida i l'anàlisi de defectes dels materials processats.
Aquest dispositiu és fàcil d'utilitzar en aspectes bàsics com ara l'enfocament automàtic, la relació de contrast automàtic i el control automàtic de la brillantor, sense necessitat de preparacions especials per al processament de mostres, com ara el recobriment o l'assecat. Té dos modes de funcionament d'alt buit i baix buit, així com tres paràmetres de tensió d'acceleració, adequats per a diversos camps d'aplicació. Tots aquests es poden programar en fitxers de solució preestablerts, mantenint una alta resolució i una gran profunditat de camp alhora que s'obtenen fàcilment imatges de gran augment. Té el potent rendiment òptic electrònic de la microscòpia electrònica d'escaneig.
El microscopi electrònic d'escaneig emet un feix d'electrons (amb un diàmetre d'uns 50um) des d'un canó d'electrons, que convergeix mitjançant un sistema de lents magnètiques sota l'acció d'una tensió acceleradora per formar un feix d'electrons amb un diàmetre de 5 nm. Està enfocat a la superfície de la mostra i, sota l'acció d'una bobina de deflexió entre la segona lent d'enfocament i la lent de l'objectiu, el feix d'electrons se sotmet a una reixa com l'exploració de la mostra. Els electrons interaccionen amb la mostra per generar electrons de senyal, que són recollits pel detector i convertits en fotons. A continuació, s'amplifica amb un amplificador de senyal elèctric i s'imatge al sistema de visualització.
L'estructura d'un microscopi electrònic d'escaneig inclou un sistema òptic d'electrons, recollida de senyals, un sistema de visualització i enregistrament d'imatges i un sistema de buit. Aquesta part consisteix principalment en un canó d'electrons, lent electromagnètica, bobina d'escaneig i cambra de mostra. El canó d'electrons proporciona una font d'electrons estable, formant un feix d'electrons. En general, s'utilitza un canó d'electrons de càtode de tungstè i un cable de tungstè amb un diàmetre d'aproximadament 0,1 mm es doblega en forma de forquilla, formant una punta en forma de V amb un radi d'uns 100 μ m. Quan passa el corrent del filament, el filament s'escalfa i quan arriba a la temperatura de funcionament, emet electrons. S'aplica alta tensió entre el càtode i l'ànode, i aquests electrons s'acceleren cap a l'ànode, formant un feix d'electrons. Sota l'acció d'un camp elèctric d'alta tensió, el feix d'electrons s'accelera a través del forat de l'eix de l'ànode i entra al camp electromagnètic.
