+86-18822802390

Hi ha sis tipus principals de lents d'objectius especials segons el seu ús

Jun 08, 2024

Hi ha sis tipus principals de lents d'objectius especials segons el seu ús

 

1) L'objectiu de contrast de fase és una lent especialitzada per a la microscòpia de contrast de fase (tot i que també es pot utilitzar habitualment).
La característica és instal·lar una placa de fase al pla focal posterior de la lent de l'objectiu, que ha aconseguit l'objectiu de retardar les ones de llum.


2) L'objectiu del collaret de correcció està equipat amb un anell d'ajust circular a la lent de l'objectiu. En girar l'anell d'ajust, és ajustable
La distància entre els grups de lents dins de la lent de l'objectiu (normalment el segon i el tercer grup de lents) s'utilitza per corregir la cobertura causada per un gruix de vidre de coberta no estàndard.
Pobre.


3) L'objectiu del diafragma de l'iris està equipat amb un diafragma d'iris a la part superior del tub de l'objectiu, i la part exterior també és giratòria
L'anell d'ajust pot ajustar la mida de l'obertura quan es gira. Aquesta estructura és l'objectiu immers en oli més avançat.


4) L'objectiu lliure de tensió supera la presència d'estrès en el muntatge de grups de lents i està dissenyat específicament per a finalitats transmissives
La lent objectiu utilitzada per a la inspecció de miralls polaritzadors pot aconseguir millors resultats d'inspecció de miralls polaritzadors.


5) Un objectiu no fluorescent és un objectiu dissenyat específicament per utilitzar-lo en un microscopi de fluorescència de feix descendent. Aquest tipus d'objectiu, encara que estigui sotmès a
Quan s'utilitza una font de llum d'excitació forta, no emet fluorescència.


6) Cap objectiu de cobertura. Alguns objectes que s'han de provar, especialment els frotis i les diapositives, no es poden tapar amb un vidre cobertor
Durant l'examen microscòpic, s'han d'utilitzar lents objectius descoberts, en cas contrari, la qualitat de la imatge disminuirà significativament, especialment a grans augments.

 

2 Electronic microscope

Enviar la consulta