La diferència entre el microscopi de força atòmica i el microscopi òptic i el microscopi electrònic
La principal diferència entre l'AFM i les tecnologies competidores com la microscòpia òptica i electrònica és que l'AFM no utilitza lents ni feixos de llum. Així, no està limitat per la resolució espacial a causa de la difracció i les aberracions, i no requereix la preparació d'espai per dirigir el feix (creant un buit) i tenyir la mostra.
Hi ha diversos tipus de microscopis d'exploració, inclosa la microscòpia de sonda d'escaneig (incloent-hi AFM, microscòpia de túnel d'escaneig (STM) i microscòpia òptica d'escaneig de camp proper (SNOM/NSOM), microscòpia STED (STED), així com la microscòpia electrònica d'escaneig i la microscòpia atòmica electroquímica. microscòpia de força EC -AFM). Tot i que SNOM i STED il·luminen mostres amb llum visible, infraroja i fins i tot terahertz, la seva resolució no està limitada pel límit de difracció.
