Microscopis STED i d'immersió amb focus profund
L'enfocament profund dels objectius NA elevats produeix una PSF (funció de propagació de punts) més petita, que és fonamental per als sistemes de microscòpia d'alta resolució. En molts altres sistemes de microscopi, com els microscopis d'immersió, s'utilitza un cobreobjectes per separar el líquid d'immersió de la mostra. Això pot distorsionar el PSF al pla focal. Demostrem que el PSF asimètric s'allarga encara més darrere del cobertor. A més, la microscòpia STED (Stimulated Emission Depletion), que s'utilitza àmpliament amb resolucions de desenes de nanòmetres, consumeix un PSF toroidal. Seguint l'enfocament proposat per P.Török i PRT Monro, modelem l'enfocament profund d'un feix de Gauss-Raggler. Demostra com generar un PSF circular.
Enfocament profund amb microscòpia d'immersió d'alta NA
A VirtualLab Fusion, es pot analitzar directament la influència de la interfície del cobreobjectes en PSF. La distorsió focal darrere del cobertor es demostra i s'analitza de manera totalment vectorial.
Enfocament de feixos de Gaussian-Laguerre al microscopi STED
Es va demostrar que l'enfocament dels feixos de Gaussian-Laguerre d'alt ordre produeix un PSF en forma d'anell. La mida del PSF anular depèn, entre altres variables, de l'ordre particular de la biga.
