Compartir la tecnologia SEM per a la microscòpia electrònica d'escaneig
Principi de l'anàlisi SEM mitjançant microscòpia electrònica d'escaneig: utilitzant tecnologia electrònica per detectar els electrons secundaris, electrons retrodispersos, electrons absorbits, raigs X, etc. generats durant la interacció entre feixos d'electrons d'alta energia i mostres, i amplificar-los en imatges.
Els mètodes de representació dels espectrogrames inclouen imatges retrodispersades, imatges d'electrons secundaris, imatges de corrent d'absorció, distribucions de línies i superfícies dels elements, etc.
Informació proporcionada: morfologia de fractura, microestructura superficial, microestructura dins de la pel·lícula, anàlisi d'elements de microzona i anàlisi d'elements quantitatius, etc.
Àmbit d'aplicació de la microscòpia electrònica d'escaneig (SEM):
1. Anàlisi de la morfologia de la superfície del material i observació de la morfologia de la microàrea
2. Anàlisi de diferents formes, mides, superfícies, seccions transversals i distribució de la mida de les partícules de materials
3. Observació de la morfologia superficial, anàlisi de rugositat i gruix de diverses mostres de pel·lícula fina
Projecte de proves SEM
1. Anàlisi de la morfologia de la superfície del material i observació de la morfologia de la microàrea
2. Anàlisi de diferents formes, mides, superfícies, seccions transversals i distribució de la mida de les partícules de materials
3. Observació de la morfologia superficial, anàlisi de rugositat i gruix de diverses mostres de pel·lícula fina
La preparació de mostres de microscòpia electrònica d'escaneig és més senzilla que la de mostres de microscòpia electrònica de transmissió i no requereix incrustació ni secció.
Requisits de la mostra:
La mostra ha de ser sòlida; Compleix amb els requisits de composició no tòxica, no radioactiva, no contaminant, no magnètica, anhidra i estable.
Principi de preparació:
Les mostres amb contaminació superficial s'han de netejar adequadament i després assecar-se sense danyar l'estructura superficial de la mostra;
Les fractures o seccions transversals recentment trencades generalment no requereixen tractament per evitar danyar la fractura o la superfície
estat estructural;
La superfície o fractura de la mostra a erosionar s'ha de netejar i assecar;
Pre-desmagnetització de mostres magnètiques;
La mida de la mostra ha de ser adequada per a la mida del suport de mostra específic de l'instrument.
Mètodes comuns:
mostra a granel
Material conductor en blocs: no cal preparar la mostra, utilitzeu un adhesiu conductor per unir la mostra al suport de la mostra per a l'observació directa.
Materials en blocs no conductors (o poc conductors): primer, utilitzeu el mètode de recobriment per tractar la mostra per evitar l'acumulació de càrrega i afectar la qualitat de la imatge.
