Diverses diferències entre els microscopis electrònics d'escaneig i els microscopis metal·logràfics
En els experiments d'anàlisi de materials, sovint fem servir microscopis electrònics d'escaneig i microscopis metal·logràfics. Quines diferències hi ha en l'ús d'aquests dos dispositius? Tianzong Testing (SKYALBS) ha resumit aquí algunes dades com a referència i la comparteix amb tothom.
Un microscopi metal·lúrgic és un microscopi que utilitza la il·luminació incident per observar la superfície (estructura metàl·lica) d'una mostra metàl·lica. Es desenvolupa combinant perfectament la tecnologia del microscopi òptic, la tecnologia de conversió fotoelèctrica i la tecnologia de processament d'imatges per ordinador. Un producte d'alta tecnologia que pot observar fàcilment imatges metal·logràfiques en un ordinador, analitzant, classificant i emet i imprimint imatges.
La microscòpia electrònica d'escaneig (SEM) és un mètode d'observació de la morfologia microscòpica entre la microscòpia electrònica de transmissió i la microscòpia òptica. Pot utilitzar directament les propietats del material dels materials de superfície de mostra per a imatges microscòpiques. La imatge del senyal electrònic secundari s'utilitza principalment per observar la morfologia superficial de la mostra, és a dir, s'utilitza un feix d'electrons extremadament estret per escanejar la mostra i es produeixen diversos efectes mitjançant la interacció entre el feix d'electrons i la mostra, la principal. sent l'emissió secundària d'electrons de la mostra. Els electrons secundaris poden produir una imatge topogràfica ampliada de la superfície de la mostra. Aquesta imatge s'estableix en seqüència temporal quan s'escaneja la mostra, és a dir, la imatge ampliada s'obté mitjançant imatges punt per punt.
Les principals diferències entre els dos microscopis són les següents:
1. Diferents fonts de llum: els microscopis metal·logràfics utilitzen la llum visible com a font de llum, i els microscopis electrònics d'escaneig utilitzen feixos d'electrons com a font de llum per a la imatge.
2. Diferents principis: els microscopis metal·logràfics utilitzen principis d'imatge òptica geomètrica per realitzar imatges, mentre que els microscopis electrònics d'escaneig utilitzen feixos d'electrons d'alta energia per bombardejar la superfície de la mostra per estimular diversos senyals físics a la superfície de la mostra, i després utilitzen diferents detectors de senyal per rebre el senyals físics i convertir-los en imatges. informació.
3. Diferents resolucions: a causa de la interferència i la difracció de la llum, la resolució d'un microscopi metal·logràfic només es pot limitar a 0.2-0.5um. Com que el microscopi electrònic d'escaneig utilitza feixos d'electrons com a font de llum, la seva resolució pot arribar entre 1-3nm. Per tant, l'observació de teixits sota el microscopi metal·logràfic pertany a l'anàlisi a nivell de micres, mentre que l'observació de teixits sota el microscopi electrònic d'escaneig pertany a l'anàlisi de nivell nano.
4. Profunditat de camp diferent: generalment, la profunditat de camp d'un microscopi metal·logràfic està entre 2-3um, per la qual cosa té requisits extremadament alts per a la suavitat de la superfície de la mostra, de manera que el seu procés de preparació de la mostra és relativament complicat. El microscopi electrònic d'escaneig té una gran profunditat de camp, un gran camp de visió i una imatge tridimensional, i pot observar directament les estructures fines de les superfícies irregulars de diverses mostres.
En general, els microscopis òptics s'utilitzen principalment per a l'observació i mesura d'estructures a nivell de micres en superfícies llises. Com que s'utilitza la llum visible com a font de llum, no només es pot observar el teixit superficial de la mostra, sinó que també es pot observar el teixit dins d'un cert rang per sota de la superfície, i els microscopis òptics són molt sensibles i precisos per al reconeixement del color. Els microscopis electrònics s'utilitzen principalment per observar la morfologia superficial de mostres a nanoescala. Com que el SEM depèn de la intensitat dels senyals físics per distingir la informació dels teixits, les imatges del SEM són totes en blanc i negre, i el SEM és impotent per identificar imatges en color. Tanmateix, el microscopi electrònic d'escaneig no només pot observar la morfologia organitzativa de la superfície de la mostra, sinó que també es pot utilitzar per a l'anàlisi qualitativa i quantitativa dels elements mitjançant l'ús d'equips accessoris com ara analitzadors d'espectre d'energia, i es pot utilitzar per analitzar informació com ara el Composició química de les microregions de la mostra.
