Principis i mètodes de micrometria confocal
La microscòpia confocal és l'abreviatura de Laser Confocal Scanning Microscope LCSM, que va fer imatges microscòpiques utilitzant principalment tècniques d'imatge capturades en 3D, donant-li una alta resolució d'imatge en 3D. S'aconsegueixen mitjançant la construcció de micrografies.
Principis de la imatge del microscopi confocal
El dispositiu de microscopi confocal es col·loca a la superfície conjugada del pla focal de l'objecte a mesurar dos petits forats, un dels quals es col·loca davant de la font de llum i l'altre davant del detector, la imatge obtinguda és la llum d'un. El pla focal es captura enfocant a través d'una càmera digital estenopeica, i mitjançant la seqüència d'imatges dels diferents plans focals que s'han acumulat, es compila una imatge 3D completa mitjançant programari.
El sistema de microscopi confocal presenta imatges ampliades amb més detall que els microscopis òptics convencionals. Amb el mateix augment objectiu, el microscopi confocal presenta imatges amb detalls morfològics més nítids i fins i amb una resolució lateral més alta. Com a eina per a la detecció micro-nano, la microscòpia confocal és diferent de l'interferometria de llum blanca en molts aspectes. Si utilitzeu una paraula per descriure-ho, llavors la interferometria de llum blanca és una "literaria", mentre que la microscòpia confocal és una "marcial". La llum blanca és bona per a la detecció de superfícies ultra suaus subnanomètriques, la recerca de la precisió del valor de detecció; mentre que el confocal és bo per a la detecció de contorns rugosos amb micronanometres, encara que en la detecció de la resolució és lleugerament inferior, però pot proporcionar imatges colorides en color real per a una fàcil observació.
El microscopi confocal a la tecnologia confocal com a principi, combinat amb el mòdul d'escaneig Z de precisió, algorismes de modelatge 3D, etc., poden mesurar tot tipus d'inclosos des de suaus fins a rugoses, baixa reflectivitat fins a alta reflectivitat de la superfície de l'objecte, des de nano fins a micres. nivell de rugositat de la peça, planitud, contorns microgeomètrics, curvatura i altres paràmetres d'una varietat de productes, components i materials, superfície superficial dels contorns de la superfície, defectes superficials, desgast, condicions de corrosió, mesurament i anàlisi de característiques de la superfície com ara la planitud , rugositat, ondulació, espai de porus, alçada del pas, deformació de flexió, mecanitzat i altres característiques de la superfície.
