En quantes categories es classifiquen els microscopis confocals làser?
Els components principals d'un microscopi confocal làser inclouen: microscopi, font de llum làser, dispositiu d'escaneig, detector, sistema informàtic (incloent-hi l'adquisició de dades, processament, conversió i programari d'aplicació), dispositiu de sortida d'imatges, dispositiu òptic i sistema confocal.
La llum recollida pels microscopis òptics ordinaris és una combinació de llum no mesurada des de dalt i per sota del pla focal, així com la llum reflectida i difractada de la mostra, donant lloc a una resolució baixa. La microscòpia confocal utilitza el principi de la microscòpia confocal per filtrar la llum dispersa formada per punts de llum que no es mesuren en el pla focal i la llum reflectida i difractada de diferents plans focals de la mostra, permetent que només la llum del pla focal passi a través del forat de detecció, millorant molt la qualitat de la imatge.
Hi ha dos tipus principals de microscopis confocals làser. Una és la microscòpia de fluorescència, que està equipada amb un dispositiu d'escaneig làser i utilitza el processament d'imatges per ordinador per millorar la resolució de la imatge òptica en un 30% -40%. Les sondes de fluorescència són excitades per llum ultraviolada o visible per obtenir imatges fluorescents de la microestructura interna de cèl·lules o teixits. S'observen senyals fisiològics com el Ca2+, el valor del pH, el potencial de membrana i els canvis en la morfologia cel·lular a nivell subcel·lular, la qual cosa la converteix en una potent eina d'investigació en els camps de la morfologia, la biologia molecular, la neurociència, la farmacologia, la genètica i molt més; El segon és un instrument de detecció que utilitza com a principi la tecnologia confocal, combinada amb mòduls d'escaneig en direcció Z-de precisió, algorismes de modelatge 3D, etc. per dur a terme l'escaneig sense contacte de superfícies de dispositius i establir imatges 3D de superfície per a la mesura de nivell micro nano de diversos dispositius de precisió i superfícies de materials.
