Mètodes d'imatge de camp-brillant i-fosc en microscòpia de fluorescència
(1) Mètode d'imatge de camp brillant (BFI), que només permet que el feix d'electrons transmès a la regió paraxial passi per l'obertura de l'objectiu, formant una imatge fosca sobre un fons brillant. Com més petita sigui l'obertura de l'objectiu, més gran serà el contrast de la imatge de camp brillant; (2) La imatge de camp fosc (DFI) és una tècnica que només permet que una part del feix dispers de gran angle o un cert feix de difracció del cristall passi a través de l'obertura de l'objectiu, mentre bloqueja el feix transmès. Això forma una imatge gràfica brillant sobre un fons fosc. Aquest mètode d'imatge de camp fosc pot millorar el contrast de les imatges i és una tècnica d'imatge important.
Hi ha aproximadament quatre mètodes per aconseguir imatges de camp fosc mitjançant microscopis de fluorescència Leica: (1) mantenir la il·luminació vertical al llarg de l'eix òptic mentre es mou l'obertura de l'objectiu; (2) L'ús de la il·luminació obliqua per capturar feixos dispersos en la direcció de l'eix òptic s'anomena Central Dark Field Imaging (CDFI); (3) Una obertura de l'objectiu amb una parada del feix central i una àrea transparent circular; (4) Utilitzeu una lent de condensador circular transparent per a la detecció de la llum i una obertura circular central per a la lent de l'objectiu. El mètode * aquí és el més senzill, però utilitza imatges electròniques a la zona distal de la màniga, de manera que l'aberració és gran i la qualitat de la imatge no és molt bona. El segon mètode pot evitar els inconvenients anteriors, però l'obertura de l'objectiu del microscopi de fluorescència Leica només rep una petita part dels electrons difractats dispersos, el que resulta en una menor eficiència. El costat de l'obertura sovint està sotmès a una gran quantitat de bombardeig electrònic, que pot causar fàcilment contaminació asimètrica i afectar la qualitat de la imatge. La lent objectiu anular s'ha millorat en aquest aspecte, però el desavantatge és que és difícil de produir i és difícil aconseguir una simetria axial completa. Tenint en compte els requisits relativament relaxats del sistema d'il·luminació, es pot adoptar aquesta darrera solució, que implica afegir una obertura anular al condensador per proporcionar il·luminació de feix buit per a la mostra. L'efecte d'aquest dispositiu. La seva resolució d'imatge pot ser propera a la de les imatges de camp brillant, mentre que el contrast es millora molt.
