Quant saps sobre la microscòpia de força atòmica?
El principi bàsic de la microscòpia de força atòmica (AFM) és que la disposició atòmica de la superfície de la mostra produeix "còncava i còncava". Quan la sonda escaneja en direcció horitzontal, la distància entre la punta de l'agulla i la superfície de la mostra canviarà en direcció vertical. Des de la teoria de la física de l'estat sòlid se sap que quan la punta de la sonda està molt a prop de la superfície de la mostra, es generarà una força interatòmica entre elles. El canvi en la distància vertical entre la punta de l'agulla i la superfície de la mostra condueix al canvi de la força interatòmica entre la punta de l'agulla i la superfície de la mostra. La força interatòmica canviant fa que el voladís vibri en direcció vertical. Per tant, la força interatòmica canviant entre la punta de l'agulla i la superfície de la mostra es pot detectar mitjançant la deflexió del raig làser. El senyal de desviació del raig làser s'introdueix a l'ordinador per processar-lo i es pot obtenir la informació de la superfície de la superfície de la mostra. S'instal·la un material piezoelèctric sota la superfície de la mostra per rebre la sortida del senyal de retroalimentació per part de l'ordinador i ajustar l'alçada de la superfície de la mostra per aconseguir el propòsit de protegir la punta de la sonda.
Com que el microscopi de força atòmica es basa en la teoria de les forces interatòmiques, la superfície de la mostra provada s'estén des dels conductors i semiconductors fins al camp dels aïllants, i la seva resolució lateral pot arribar a 0,101 nm. Actualment, segons el contacte entre la punta de la sonda i la superfície de la mostra, les formes de contacte del microscopi de força atòmica es divideixen en tipus de contacte (tipus C), tipus sense contacte (tipus NC) i tipus de contacte intermitent (tipus IC). ).
