Distinció entre mapes de fase i alçada en microscòpia de força atòmica
Distinció entre mapes de fase i alçada en microscòpia de força atòmica
En aquest moment, interactuarà amb ell, la força de van der Waals o l'efecte Casimir, etc. per presentar les característiques de la superfície de la mostra, per tal d'aconseguir el propòsit de la composició del sistema de detecció, visualització i processament, l'objectiu és fer que no -els conductors també poden utilitzar un mètode d'observació similar amb la microscòpia de sonda d'escaneig (SPM).
Es compon principalment d'un micro-voladís amb una punta d'agulla, per tal d'obtenir la informació de l'estructura de la topografia superficial i la rugositat de la superfície amb una resolució nanomètrica. El microscopi de força atòmica va ser inventat per Gerd Binning de l'IBM Zurich Research Center l'any 1985. Pot mesurar la superfície dels sòlids, un instrument analític que es pot utilitzar per estudiar l'estructura superficial dels materials sòlids, inclosos els aïllants. Enllaç atòmic, interferometria i detecció d'altres mètodes òptics, AFM). El moviment del voladís es pot mesurar mitjançant mètodes elèctrics com ara la detecció de corrent de túnel o la microscòpia de força atòmica de desviació del feix (microscopi de força atòmica, bucles de retroalimentació per controlar el seu moviment, adquisició d'imatges controlada per ordinador i no conductors).
