Introducció breu de les funcions del microscopi de sondes d’escaneig
El microscopi de sonda d’escaneig (SPM) és un terme general per al microscopi de túnel d’escaneig i diversos microscopis de sonda nous desenvolupats a partir del microscopi de túnel d’escaneig (com la microscòpia de força atòmica (AFM), la microscòpia de força làser (LFM), la microscòpia de força magnètica (MFM), etc.). És un instrument d’anàlisi de superfície desenvolupat internacionalment en els darrers anys. Es tracta d’un producte d’alta tecnologia que integra llum, màquina i electricitat aplicant de forma exhaustiva èxits científics i tecnològics moderns com ara la tecnologia optoelectrònica, la tecnologia làser, la tecnologia de detecció de senyal feble, el disseny mecànic de precisió i el processament, la tecnologia de control automàtic, la tecnologia de processament digital de senyal, la tecnologia òptica aplicada, l’adquisició i el control d’ordinadors d’alta velocitat i la tecnologia de processament gràfic d’alta resolució. Aquest nou tipus d’eina microscòpica té avantatges importants en comparació amb els microscopis anteriors i els instruments analítics:
1. SPM té una resolució extremadament alta. Es pot "veure fàcilment" àtoms, que és difícil per aconseguir els microscopis ordinaris o fins i tot els microscopis electrònics.
2. SPM obté imatges en temps real i d’alta resolució de la superfície de la mostra que mostren realment els àtoms. A diferència d'alguns instruments analítics que calculen l'estructura superficial d'una mostra mitjançant mètodes indirectes o computacionals.
3. L’entorn d’ús de SPM està relaxat. Els microscopis electrònics i altres instruments tenen requisits estrictes per a l’entorn de treball i les mostres s’han de col·locar en condicions altes de buit per a la prova. SPM pot funcionar al buit, així com a l’atmosfera, baixa temperatura, temperatura ambient, alta temperatura i fins i tot en solucions. Per tant, SPM és adequat per a experiments científics en diversos entorns de treball.
